论文摘要：近场微波成像二维平面扫描方式中的采样研究

微波成像是目前学术研究的热点问题，三维近场成像更是新兴的测量技术，但是由于常规目标散射近场的复杂性，致使微波近场成像远远滞后于远场成像。近场微波成像中，着眼于潜在的应用，所以它对数据的采集量和采集后的处理速度都有较高的要求，这就是为什么要研究采样的重要原因。本文首先对研究背景，国内外的进展作了一个概括的介绍。然后对最基本的一维成像，二维成像以及三维成像进行了简单的说明。接着根据奈奎斯特采样准则，研究三维微波近场成像中采样时的几何位置及其它参量与频率的关系。这部分首先对实验原理进行说明，接着对单个点目标在不同参数的实验情况进行了详细分析，得到了改变实验的几何条件来提高实验频率的方法，并在一种典型的条件下进行仿真实验，对得到的结果作了统计分析。然后对多个点目标和三维目标的情况进行分析，做了与单个点目标的比较，得到了通过改变实验几何条件简化复杂目标为点目标的方法，可以达到降低实验的复杂程度，提高效率，降低实验成本的效果。最后，针对实际应用中采用具有天线方向图的天线，对原来的采样方法进行了优化，给出了大量的仿真结果，并在不同参数条件下作了详细的比较，对所得结果作了详细的分析。对非均匀采样，以及它在成像中的应用作了简单的介绍。